【文档说明】HT8-PCBPOPs分析応用.pptx，共(10)页，157.815 KB，由精品优选上传

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HT8-PCBのPOPs分析への応用松村千里、江崎達哉*、鶴川正寛、中野武兵庫県立健康環境科学研究センター*SGEJapan株式会社TheApplicationtoPOPsAnalysiswithHT8-PCBChis

atoMatsumura,TatsuyaEzaki*,MasahiroTsurukawa,TakeshiNakano(HyogoPrefecturalInstituteofPublicHealthandEnvironmentalSciences,*

SGEJapanInc.)残留性有機汚染物質（POPs）条約対象物質：12種類のPOPs(PersistentOrganicPollutants)クロルデン、DDT、トキサフェン、ヘキサクロロベンゼン、PCB、アルドリン、ディルドリン、エンドリン、ヘプタクロル、マイレックス、ダイオキシン類、

ジベンゾフラン類2000年末にヨハネスブルグ会議で条約合意2001年５月のストックホルム会議条約締結長距移動性難分解性高蓄積性毒性残留性有機汚染物質（POPs）条約における具体的な規制方法1.意図的な生産に対しては製造・使用を禁止2.使用の継続を必要とする時には、物質ごとに使用目的、使

用期間を特定した上で使用を認める3.非意図的副生成される物質に対しては、インベントリー作成4.国別の年間排出量の削減に技術的に利用できる最善技術・排出基準の設定5.ＰＣＢは2025年までに使用廃絶、2028年までに適正な処理を行う努力

をする同一カラムによる一斉分析の検討•①農薬類、②ＰＣＢ、③ダイオキシンそれぞれカラムを変えると時間のロス。•そこで、①、②および③のうち7,8塩化物について、同時分析を試みた。表１Hp/OCDD、Hp/OCDFおよびCo-PCBsの同時分析条件•In

jectorInjector:280℃,Splitless•CarrierGasHe1.0ml/min,27cm/sec,Constantflowmode（真空補正ON）•ColumnOven130℃(1min)－2

0℃/min－200℃－2℃/min－240℃－4℃/min－320(5min)表2POPs類の分析条件（トキサフェンを除く）•InjectorInjector:260℃,Splitless•CarrierGasHe1

.0ml/min,27cm/sec,Constantflowmode（真空補正ON）•ColumnOven120℃(0min)－20℃/min－180℃－2℃/min－210℃－5℃/min－300(5min

)1415161718192021222324RetentionTime(min)02509010T4CB#77#81#79#68#56/#60#55#66#76#70#61/#74#67#63/#58#40/#57#64#72/#71#41#44#59#42#52/#69#43/#49#78

#65/#75/#48/#47#73#62#8023.023.524.024.525.025.526.026.527.027.528.028.529.029.530.0RetentionTime(min)01798

016IntensityP5CB#82#124#109/#107#123#106#118#114#122#105#126#127H6CBCompoundViewPage1DqData:C:\DocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒbƒv\Dio

_Data_HT8PCB\HT8PCB-005\HT8PCB-005Injection:StackGas-B-229303132333435363738RetentionTime(min)0478793IntensityH6CB/361.8386#167#156#157#169Compound

ViewPage1DqData:C:\DocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒbƒv\Dio_Data_HT8PCB\HT8PCB-005\HT8PCB-005Injection:StackGas-B-2313233343536373839Retent

ionTime(min)0387474IntensityH7CB/393.8025H7CB#189#170#190#172#192#193#191#180CompoundViewDqData:C:\DocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒInj

ection:StackGas-B45.646.046.446.847.247.648.0Retent01472777IntensityO8CDF/443.7399CompoundViewPage1DqData:C:\Documen

tsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒbƒv\Dio_Data_HT8PCB\HT8PCB-005\HT8PCB-005Injection:StackGas-B40.841.241.642.042.442.843.243.644.044.

444.845.245.646.0RetentionTime(min)06177261IntensityH7CDF/407.7818OCDF123467891234678HpCDF123478912346791

234689CompoundViewDqData:C:\DocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒInjection:StackGas-B45.646.046.446.847.

247.648.0Retent01511794IntensityO8CDD/459.7348CompoundViewPage1DqData:C:\DocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒbƒv\Dio_Data_HT8PCB\HT8PCB-005\HT8PC

B-005Injection:StackGas-B40.841.241.642.042.442.843.243.644.044.444.845.245.646.0RetentionTime(min)0

2778530IntensityH7CDD/423.776612346789OCDDHpCDD123467912346781415161718192021222324RetentionTime(min)02509010T4CB#77#81#79#68#56/#60#55#66#76#70

#61/#74#67#63/#58#40/#57#64#72/#71#41#44#59#42#52/#69#43/#49#78#65/#75/#48/#47#73#62#8023.023.524.024.525.025.526.026.527.02

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iewPage1DqData:C:\DocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒbƒv\Dio_Data_HT8PCB\HT8PCB-005\HT8PCB-005Injection:S

tackGas-B-229303132333435363738RetentionTime(min)0478793IntensityH6CB/361.8386#167#156#157#169CompoundViewPage1DqData:C:\D

ocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒbƒv\Dio_Data_HT8PCB\HT8PCB-005\HT8PCB-005Injection:StackGas-B-2313233343536373839RetentionTime(min)0387474I

ntensityH7CB/393.8025H7CB#189#170#190#172#192#193#191#180CompoundViewDqData:C:\DocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒInjectio

n:StackGas-B45.646.046.446.847.247.648.0Retent01472777IntensityO8CDF/443.7399CompoundViewPage1DqData:C:\DocumentsandSett

ings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒbƒv\Dio_Data_HT8PCB\HT8PCB-005\HT8PCB-005Injection:StackGas-B40.841.241.642.042.442.843.2

43.644.044.444.845.245.646.0RetentionTime(min)06177261IntensityH7CDF/407.7818OCDF123467891234678HpCDF123478912346791234689CompoundViewDqData:C:\Docu

mentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒInjection:StackGas-B45.646.046.446.847.247.648.0Retent01511794IntensityO8CDD/459.7348

CompoundViewPage1DqData:C:\DocumentsandSettings\T_EZAKI\ƒfƒXƒNƒgƒbƒv\Dio_Data_HT8PCB\HT8PCB-005\HT8PCB-005Injection:StackGas-B40.8

41.241.642.042.442.843.243.644.044.444.845.245.646.0RetentionTime(min)02778530IntensityH7CDD/423.776612346789

OCDDHpCDD123467912346787､8塩化ダイオキシンおよびコプラナーＰＣＢの同時分析時のクロマトグラムCompoundViewPage1DqData:f:\0308POPsLow\0308POPsLow

-001Injection:POPsallmix100ppb10121416182022242628303234RetentionTime(min)01413806IntensityHCH/Average10121416182022242628303234RetentionTime(mi

n)02094465IntensityHeptachlor/Average10121416182022242628303234RetentionTime(min)01466941Intensityaldrin_dieldrin_endrin/AverageCompoundViewPage1DqD

ata:f:\0308POPsLow\0308POPsLow-001Injection:POPsallmix100ppb10121416182022242628303234RetentionTime(m

in)0221130Intensityendrin/Average10121416182022242628303234RetentionTime(min)04982791IntensityDDE/Average10121416182022242628303234RetentionTime(m

in)06211533IntensityDDT/Averageα-HCHγ-HCHβ-HCHδ-HCHHeptachlorAldrineDieldrineEndrineEndrineDieldrine2,4`-DDE4,4`-

DDE2,4`-DDD4,4`-DDD2,4`-DDT4,4`-DDTCompoundViewPage1DqData:f:\0308POPsHigh-2\0308POPsHigh-2\0309HT8-POPsHi-2Injection:POPsallmix

100ppb10121416182022242628303234RetentionTime(min)011170766IntensityHCB/Average10121416182022242628303234RetentionTime(min)0392549IntensityOx

y-CHL/Average10121416182022242628303234RetentionTime(min)08010167Intensityheptachlor-epoxide/Average1012141618202224262830323

4RetentionTime(min)04883096Intensitychlordane/AverageCompoundViewPage1DqData:f:\0308POPsHigh-2\0308POPsHigh-2\0

309HT8-POPsHi-2Injection:POPsallmix100ppb10121416182022242628303234RetentionTime(min)04921122Intensitynonachlor/Average1012141618202224262830

3234RetentionTime(min)0361958IntensityENDRIN/Average10121416182022242628303234RetentionTime(min)0151222IntensityENDRIN-2/Ave

rage10121416182022242628303234RetentionTime(min)08189238IntensityMirex/AverageHCBOxychlordanetrans-C

hlordanecis-ChlordaneHeptachlor-epoxide（exo：isomerB）trans-Heptachlor-epoxide（endo：isomerA）trans-Nonachlorcis-NonachlorEndrineDieldrineMirexDieldrin

eEndrineまとめ•Hp/OCDD、Hp/OCDFおよびCo-PCBsの同時分析が可能であることが判り、大幅な測定時間の短縮が期待できる。•同一のカラムでPOPs類の分析も可能である事が判った。